Ім'я файлу: практика.docx
Розширення: docx
Розмір: 51кб.
Дата: 20.05.2020
Пов'язані файли:
СОЦІАЛЬНИЙ ЗАХИСТ НАСЕЛЕННЯ УКРАЇНИ.docx
Вейвлеты.doc
теоритичні основи формування стратегії підприємства.docx

МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ

МОЛОДІ ТА СПОРТУ УКРАЇНИ

Запорізький національний технічний університет


МЕТОДИЧНІ ВКАЗІВКИ

до практичних занять, підготовки до модульного контролю

та самостійної роботи з дисципліни

Моделювання в електроніці”

для студентів спеціальності 6.050801

“Мікро- та наноелектроніка”

денної і заочної форм навчання

2014

Методичні вказівки до практичних занять, підготовки до модульного контролю та самостійної роботи з дисципліни для студентів спеціальності 6.050801 “Мікро- і наноелектроніка” денної і заочної форм навчання / Укл.: О.В. Василенко, А.В. Бабіч. – Запоріжжя: ЗНТУ, 2014. – 66 с.
Укладачі: О.В. Василенко, доцент, канд.техн.наук

А.В. Бабіч, асистент
Рецензент: А.М. Багинський, ст. викладач
Відповідальний за випуск: Г.В.Сніжной, доцент, канд.фіз.-матем.наук


    1. Затверджено


на засіданні кафедри

“Мікро-та наноелектроніка”

Протокол №4

від 1 лютого 2011 р.
ЗМІСТ
ВСТУП5
Практичне заняття №1 Основні закони та класифікація кіл6

1.1 Класифікація та основні рівняння6
Практичне заняття №2 Графічні методи аналізу12

2.1 Графічні види аналізу на постійному струмі12

2.1.1 Апроксимація нелінійних характеристик12

2.1.2 Отримання еквівалентної ВАХ14

2.2 Графоаналітичні методи аналізу на змінному струмі18

2.3 Лінеаризація кіл20
Практичне заняття №3 Аналітичні методи аналізу22

3.1 Використання перетворень функцій часу для аналізу схем22

3.2 Методи аналізу перехідних процесів25

3.2.1 Класичний метод аналізу перехідних процесів30

3.2.2 Операторний метод33

3.3 Числові методи аналізу перехідних процесів35
Практичне заняття №4 Топологічні елементи та матриці36

4.1 Топологічні елементи 36

4.2 Матрично–векторні параметри схеми37

4.3 Топологічні матриці для аналізу електронних кіл37

4.4 Принцип дуальності40
Практичне заняття №5 Методи формування математичної моделі схеми42

5.1 Методи однорідного координатного базису42

5.1.1 Метод вузлових потенціалів42

5.1.2 Метод контурних струмів43

5.2 Методи неоднорідного координатного базису44

5.2.1 Метод змінних стану44

5.2.2 МВП з розширеним координатним базисом49
Практичне заняття №6 Аналіз функцій схем50

6.1 Матрично–векторні параметри схеми50

6.2 Функції схеми та способи їхнього подання52

6.2.1 Дослідження функцій схем у частотному діапазоні54


Рис. В
6.2.2 Дослідження функцій схеми у часовій області56

6.2.3 Зв`язок між частотними та передатними характеристиками57

6.3 Стійкість схем58

6.4 Дослідження функцій схем у програмах аналізу59
Практичне заняття №7 Числові методи для аналізу процесів в електронних схемах61

7.1 Дискретні моделі61

7.2 Розрахунок статичного режиму ключа методом Ньютона64

7.3 Розрахунок перехідного процесу в ключі методом Ейлера67

    1. Алгоритм симуляції в ECAD68


Практичне заняття №8 Синтез та оптимізація70

8.1 Показники якості електронних систем70

8.2 Параметрична оптимізація в Micro–Cap 71

8.3 Синтез аналогових фільтрів71
РЕКОМЕНДОВАНА ЛІТЕРАТУРА75
Додаток А – Завдання для РГР76
скачати

© Усі права захищені
написати до нас